반응형 sram bira1 SRAM의 Dynamic Built In Self Repair(BIST, BISR) SRAM의 BIST에 대해서 공부하다 찾아본 논문 내용을 정리하고자 한다. SRAM TEST의 필요성임베디드 sram은 SoC(System-on-Chip)의 큰 비중을 차지하므로, high fault tolerance와 reliability를 가져야 한다.테스트는 메모리의 결함을 분석하고 정확성을 검사하는 필수적인 과정이다. 크게 produciton testing과 field testing으로 나뉜다. Production testing은 자동 테스트 장비(ATE)를 사용하여 수행되며, 외부 장비를 이용한 테스트이기에 비용이 많이 들고 시간이 오래 걸린다.Field Testing은 시스템 내에서 각 임베디드 메모리를 별도로 테스트하는 것이 어렵기 때문에, 내장된 하드웨어 및 소프트웨어를 사용하여 자체적으.. 2025. 4. 28. 이전 1 다음
