[Scan basic] Testability

 

Test vs Testability

• 반도체 test는 반도체 칩의 기능을 테스트하는 과정을 말합니다. 이는 반도체 칩이 설계된 목적대로 정확하게 동작하는지 확인하기 위해 수행됩니다.
• 반면에 testability는 반도체 칩의 테스트가 얼마나 쉽게 수행될 수 있는지를 나타내는 측정 기준입니다. 즉, testability는 반도체 칩 설계 시 테스트가 용이하도록 고려되는 요소들을 포함합니다.

 

 

 

 

Controllability vs Observability

• Controllability : 특정 구간을 원하는 값으로 제어할 수 있는 경우. (Unknown이 되는 경우가 아니면 됨, X & X = X)
• Observability : 특정 값을 외부에서(output 값으로) 관측할 수 있는지

 

 

 

 

예제

 

1. 해당 회로 c5에서 SA0 testability를 판단해라. 

c5 에서의 값은 c1의 값에 따라 제어할 수 있기에 controllable 하다.

또한,  SA0가 발생하면 아래 c4~c6값은 1이기에 최종 output인 c7에서 SA0 (0)값을 관찰할수 있기에 observable하다.

 

 

 

  

 

2. 해당 회로 c5에서 SA1을 판단하라

c5에서의 값은, c0나 c1의 값에 따라 제어가 가능하기에 controllable하다

하지만 . SA1가 발생하면 아래 c4~c6값은 X이기에 최종 output인 c7에서 X값이 나오기에 not observable하다.