반응형 observability1 [Scan basic] Testability Test vs Testability반도체 test는 반도체 칩의 기능을 테스트하는 과정을 말합니다. 이는 반도체 칩이 설계된 목적대로 정확하게 동작하는지 확인하기 위해 수행됩니다.반면에 testability는 반도체 칩의 테스트가 얼마나 쉽게 수행될 수 있는지를 나타내는 측정 기준입니다. 즉, testability는 반도체 칩 설계 시 테스트가 용이하도록 고려되는 요소들을 포함합니다. Controllability vs ObservabilityControllability : 특정 구간을 원하는 값으로 제어할 수 있는 경우. (Unknown이 되는 경우가 아니면 됨, X & X = X)Observability : 특정 값을 외부에서(output 값으로) 관측할 수 있는지 예제 1. 해당 회로 c5.. 2025. 3. 25. 이전 1 다음
